表层微结构敏感的同步辐射X射线实验方法研究及应用

摘要：

随着同步辐射这种强光源的出现和应用,人们开始利用X射线在材料表面的全反射现象来研究材料的表层结构和成分分布.本文将介绍同步辐射X射线实验方法及其在Ge/Si量子点微结构方面的应用.

关键词： 同步辐射X射线法 材料表层微结构 Ge/Si量子点

作者: 姜晓明 贾全杰 郑文莉 何庆 蒋最敏 蒋伟荣

作者单位: 中国科学院高能物理研究所(北京) 复旦大学表面物理实验室(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国X射线衍射学术会议

会议地点: 南宁

会议语种:中文

页码: 229-229

在线出版日期: 2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）