关键词： 大规模集成电路 军用电子器件 模/数转换器 数/模转换器 可靠性
作者: 徐爱斌 郑廷圭
作者单位: 部第五研究所
会议类型: 国内会议
会议名称: 中国电子学会可靠性分会第九届学术年会
会议地点: 成都
会议语种:中文
页码: 197～200
在线出版日期: 1998-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）