点聚焦透镜天线分辨率的分析与测量
采用波动理论方法分析了平面电磁波经点聚焦透镜天线会聚后焦斑大小和横向空间分辨率,得出了此类天线在会聚点的天线特性与某种平面口径天线在无穷远处的天线特性的关系,提出了透镜天线分辨率的一种测量方法.通过实测,测量结果和理论较为吻合.
点聚焦透镜天线 横向空间分辨率 焦斑 散焦测量
马平 何昌伟
中国空气动力研究与发展中心超高速所(四川绵阳) 电子科技大学应用物理研究所(四川成都)
国内会议
鞍山
中文
162-165
2003-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)