编程表征微颗粒结构的一种新方法

摘要：

介绍了通过编程对透射电镜照片上单个颗粒进行进一步分析的一种新方法,阐明了程序的设计原理.详细讨论了如何使用该程序来分析圆形颗粒在特定径向上颗粒材质、颗粒内部的孔隙分布状况及在径向上颗粒材质统计分布状况.结果表明,通过该方法可以获得普通表征方法(如TEM)得不到的有关颗粒生长过程及颗粒内部材质和孔隙分布的重要信息.

关键词： 灰度值 灰度曲线 颗粒结构材质 程序设计 孔隙分布

作者: 王晓冬 董鹏

作者单位: 石油大学(北京)重质油国家重点实验室(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2003全国粉体设备—技术—产品信息交流会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 150-155

在线出版日期: 2003-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）