存储测试专用集成电路的检测技术
为适应各种高难度的动态测试课题,提高存储测试技术的水平,减少体积,降低功耗,提高可靠性,研制了几种存储测试专用集成电路.存储测试专用集成电路的特性复杂,功能特殊,用通用测试方法难以全面检测其静、动态特性.本文提出一种模拟数字混合、计算机交互式检测方法,圆满地实现了成测工作.本文结合一个具体的存储测试专用集成电路介绍了其特点、可测性设计、测试装置的原理框图、测试策略及实际应用结果.
存储测试技术 专用集成电路 检测技术 人机交互式
申湘南 祖静 王俊杰 雷华明
华北工学院(山西太原)
国内会议
合肥
中文
71-75
2000-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）