存储测试技术中的抗干扰设计

摘要：

本文介绍了在存储测试过程中的一些干扰现象,通过对这些现象的分析,提出了一些解决问题的措施,最终达到抗干扰的目的.

关键词： 存储测试 抗干扰 电磁辐射 测试装置

作者: 李锦明 张文栋 田恒春

作者单位: 华北工学院(太原) 航天部一院14所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国兵工学会第10届测试技术研讨会

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 277-278

在线出版日期: 2000-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）