Pt-10Rh/Pt热偶在还原气氛中脆断失效分析
采用透电镜(TEM)观察脆断偶丝的微观组织和形貌,研究高温下Pt-10Rh/Pt热偶在H<,2>或CO气氛中使用时的脆断失效.结果表明,脆断失效的根本原因在于Si与Pt作用形成Pt<,5>Si<,2>低熔点共晶物.脆断处局部区域Si最大含量分别达到7.93﹪和3.27﹪,Si是耐火材料中SiO<,2>高温下被H<,2>或CO还原产生的.
铂铑热电偶 还原气氛 脆性断裂 低熔点共晶物
刘庆宾
重庆仪表材料研究所(重庆)
国内会议
西安
中文
82-84
2002-07-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)