基于注入衰减混沌噪声的神经网络自动测试生成算法

摘要：

本文描述了一种基于混沌神经网络的自动测试生成方法.由双向神经元表示门电路,而用神经网络中神经元的阔值和相互之间的连接权来表示电路的功能.在神经网络中注入故障,并构造全局最小点与测试序列相对应的能量函数,并采用注入衰减混沌噪声的神经网络算法来得到能量函数的最小点.对组合电路的仿真结果证明了这种方法的可行性.

关键词： 组合电路 测试生成算法 混沌神经网络 混沌噪声

作者: 徐红兵 王厚军 李焱骏

作者单位: 电子科技大学自动化工程学院

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年全国电子测控工程学术年会

会议地点: 武夷山

会议语种:中文

页码: 930-933

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）