IEEE P1500嵌入式核测试标准技术研究
集成电路规模的不断扩大,使得基于嵌入式核进行可重用设计已成为主流技术.但嵌入式核的来源不同、设计标准的不兼容性和电路日趋复杂等因素,使系统芯片最终测试的复杂度远远超出了人们的想象,测试费用上升到产品开发总规划的70﹪~80﹪,大大影响了产品的上市时间.国外正在研究的IEEE P1500嵌入式核测试标准通过定义一个可定制的标准结构,采用嵌入式核测试语言(CTL-Cort Test Language)描述有关内核测试的一切有关信息,从而在系统级进行测设可重用,大大提高了测试的效率.本文详细介绍了IEEE P1500的有关概念、结构和内核测试语言,并举例进行了验证.
片上系统 封装器 嵌入式核 测试标准
肖有军 李智 关红波 莫玮
桂林电子工业学院 电子科技大学
国内会议
武夷山
中文
861-866
2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）