ADC芯片转换误差的分析与测试

摘要：

本文通过对ADC芯片的转换工作原理,转换误差的描述与分析,总结出运用任意波形发生器和逻辑分析仪,快速测试转换误差的原理和方法,并对测试不确定度及其影响因素进行详细讨论,最后利用芯片ADC0808的实测验证,证明了该方法的实用性.

关键词： 逻辑分析仪 不确定度 ADC芯片 转换误差分析

作者: 何山 夏强民

作者单位: 中国船舶重工集团公司第七0九研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年全国电子测控工程学术年会

会议地点: 武夷山

会议语种:中文

页码: 828-833

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）