天线高度引起的EMC测试结果不确定度分析

摘要：

本文以点辐射源为例,详细分析了在半电波暗室内进行电磁骚扰辐射发射测试时,由于接收天线高度的不准确性带来的测试结果的不确定度.结果说明该不确定度来源于半电波暗室的固有缺陷.另外,本文还对于实际测试中需要注意的方面给出了建议.

关键词： 不确定度 电磁辐射 接收天线 天线高度 发射骚扰测试

作者: 谭海峰 刘萍 沙斐

作者单位: 北方交通大学

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年全国电子测控工程学术年会

会议地点: 武夷山

会议语种:中文

页码: 812-817

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）