微电子电路自动测试与校准技术研究

摘要：

本文阐述了对微电子电路自动测试与校准技术进行研究的必要性、主要研究内容和关键技术.并针对这些关键技术,提出了初步的解决方案或思路.

关键词： 自动测试 微电子电路 校准技术

作者: 沈森祖 韩红星

作者单位: 中国船舶重工集团公司第七0九研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年全国电子测控工程学术年会

会议地点: 武夷山

会议语种:中文

页码: 778-782

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）