X—射线衍射非对称摇摆曲线法测定薄膜的晶格常数

摘要：

本文介绍了X—射线衍射非对称摇摆曲线技术,该技术是测定薄膜在生长平面内的晶格常数的有效方法.作为一个例子,我们用X—射线衍射非对称摇摆曲线技术研究了激光分子束外延生长的钙钛矿氧化物BaTiO<,3>薄膜的晶体结构.

关键词： X—射线衍射 非对称摇摆曲线法 薄膜 晶格常数 生长机理

作者: 崔大复

作者单位: 中国科学院物理研究所光物理实验室

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年全国电子测控工程学术年会

会议地点: 武夷山

会议语种:中文

页码: 1517-1520

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）