机辅纳米晶软磁薄膜性能的测试研究
软磁纳米晶材料磁性能测试及分析是近期国内外磁电住处材料领域研发的热点.本文基于纳米晶材料的微磁学和各向异晶机理建立软磁性能测试分析模型,提出一种新的测试方法,并设计制作出相关磁场回路,放大电路和接口电路,结合HP4175A系统,对软磁薄膜材料的矫顽力Hc,饱和磁感应强度Bs,剩磁感应强度Br,磁导率的频率特性进行测试.矫顽力测试精度在±0.010e,饱和磁感应强度精度在0.1高斯,经过对大量的各种软磁薄膜测试,表明该测试系统稳定可靠,是纳米材料表征的良好测试仪器.
纳米材料 测试技术 测试仪器 纳米晶软磁薄膜 性能测试
张怀武 石玉 苏桦
电子科技大学微电子与固体电子学院
国内会议
武夷山
中文
1485-1489
2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）