利用断言和剖视技术验证硬件模型

摘要：

随着集成电路规模的增长,工艺能力和设计产率的矛盾越来越突出.设计验证成为提高设计产率的限制因素.本文在利用SystemC建立专用集成电路模型的过程中,提出使用断言和代码剖析改善功能验证的方法,并且实现了SystemC的内嵌式检查代码库, SystemC电路模型的设计中进行了验证,证明该方法简单有效性.

关键词： 硬件模型 模型质量 集成电路 代码覆盖率 仿真验证 剖视技术 计算机仿真

作者: 钟涛 周正伟 王豪才

作者单位: 电子科技大学微电子与固体电子学院

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年全国电子测控工程学术年会

会议地点: 武夷山

会议语种:中文

页码: 1172-1177

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）