应用自动激励/响应技术实现数字电路的测试仿真

摘要：

本文提出了一种针对数字电路进行测试仿真的有效方法,该方法应用自动激励/响应技术来实现对被测电路的自动测试激励发送和响应数据接收,从而获得TPS(测试程序组合)开发所需的测试向量集合以及故障诊断数据.采用这一方法对数字电路进行实板仿真克服了传统软件测试仿真的许多弊病,具有投资成本低、开发效率高、仿真结果准等优点,本文还给出了一个应用此方法的测试仿真实例.

关键词： 测试仿真 数字电路 电路检测 自激励技术 自响应技术

作者: 周天 吴心宏

作者单位: 华中科技大学计算机学院 中国船舶重工集团公司测控技术部

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年全国电子测控工程学术年会

会议地点: 武夷山

会议语种:中文

页码: 221-225

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）