一种基于边界扫描的自适应测试生成算法

摘要：

在分析传统边界扫描测试生成算法和W步、C步自适应测试生成算法的基础上,提出了一种改进自适应测试生成算法.实验表明该算法具有完备的诊断能力、测试时间较短的优点,是一种性能优良的测试生成算法.

关键词： 边界扫描 故障诊断 测试生成算法 电路检测 数字电路

作者: 周清林 颜学龙 雷加 郭学仁

作者单位: 桂林电子工业学院

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年全国电子测控工程学术年会

会议地点: 武夷山

会议语种:中文

页码: 147-151

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）