ispLSI自动编程与测试技术

摘要：

本文提出了一种全新的可编程逻辑器件测试方法,解决了ispLSI器件的测试问题.我们从ispLSI的结构模型和故障模型分析入手,研制了编程模式和普通模式相结合的ispLSI测试方法.实验表明,采用这种方法测试ispLSI器件,故障覆盖率达到100﹪,并能进行故障定位.

关键词： 可编程逻辑器件 测试方法 故障覆盖率 专用集成电路 自动编程 测试技术

作者: 吴丹 石坚

作者单位: 武汉数字工程研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年全国电子测控工程学术年会

会议地点: 武夷山

会议语种:中文

页码: 136-141

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）