具体应用中的可测性设计综合与优化——综述

摘要：

本文分析了可测性设计面临的主要问题,阐述了系统可测性设计具体应用所涉及的基本技术,重点探讨了当前可测性设计的技术综合、技术优化和基于先进信息处理技术的综合优化问题.

关键词： 可测性设计 故障诊断 电路设计

作者: 赵瑞贤 孟晓风

作者单位: 北京航空航天大学

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年全国电子测控工程学术年会

会议地点: 武夷山

会议语种:中文

页码: 110-113

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）