新型大容量高速存储器的测试

摘要：

本文以半导体存储器工艺的不断进步和市场需求为背景,阐述了新型大容量高速存储器的性能特点和对测试技术提出的新挑战,以及探讨应采取的对策.

关键词： 半导体存储器 测试技术 性能特点

作者: 刘鸿琴

作者单位: 江南计算技术研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年全国电子测控工程学术年会

会议地点: 武夷山

会议语种:中文

页码: 35-40

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）