《××工程用罐形系列磁芯可靠性增长研究》

摘要：

该文对用罐形系列磁芯的摸底试验和生产过程中出现的可靠性薄弱环节以及失效样品进行了分析研究。从影响该产品可靠性的主要因素（配方、制粉、压制与烧结等方面）着手，运用三次设计技术中的正交试验，确定产品的最佳工艺参数和配方，加上合理地试验（可靠性摸底试验、加速试验、评价试验）配合，最终使该系列产品的可靠性水平和产品合格率得到明显提高。通过“试验一分析一纠正”数次循环，使产品的可靠性水平增长了一个多数量级。其（失效率由３×１０〈’－６〉／ｈ降至１×１０〈’－７〉／ｈ），达到９２０１Ｋ００６合同要求。

关键词： 磁芯 可靠性增长 电子元件

作者: 史庆余

作者单位: 第八九八厂

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 40～50

在线出版日期: 1998-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）