X射线荧光光谱测定复合碳硅锰

摘要：

将复合碳硅锰研磨至<88μm,与粘结剂混匀,压制成φ40mm样片,用PW1606X射线荧光光谱仪测定其中的Si、Mn、P.各元素测定范围(质量分数)为Si15.0﹪~18.0﹪;Mn57.0﹪~63.0﹪;P0.10﹪~0.25﹪.对复合碳硅锰试样压片测定,结果与化学法相符.方法的相对标准偏差(RSD,n=10)为0.08﹪~0.77﹪.

关键词： X射线荧光分析 复合碳硅锰 成分分析 分析方法

作者: 胡正阳 邢华宝 华静 史厚义

作者单位: 马钢技术中心 中心检化验室(安徽马鞍山)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届全国X射线光谱分析学术报告会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 95-96

在线出版日期: 2002-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）