X射线荧光光谱分析中基本参数的优化及其应用

摘要：

在现代X射线荧光分析中,为了对基体进行校正,普遍采用理论影响系数法.在理论影响系数计算中,用到的基本参数有很多文献值,大多不够准确.本文对这些基本参数进行了比较和优化,并考察了其对理论影响系数的准确性和实际样品分析结果准确性的影响.

关键词： X射线荧光分析 基本参数 基体校正

作者: 卓尚军 陶光仪 吉昂

作者单位: 中国科学院上海硅酸盐研究所(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届全国X射线光谱分析学术报告会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 7-12

在线出版日期: 2002-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）