X射线微区痕量分析技术在地学中的应用研究

摘要：

当代地学研究的范围不断扩大,而且也不断浓度用微观体系解释宏观地质问题.本文简要介绍了采用微区痕量分析技术,用X射线荧光光谱法测定矿物中主量和次量元素.

关键词： X射线荧光分析 痕量分析 地质学 微区分析

作者: 詹秀春 马光祖

作者单位: 国家地质实验测试中心(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届全国X射线光谱分析学术报告会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 6-6

在线出版日期: 2002-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）