从经验到知识——化学计量学在X射线荧光分析中的应用与发展

摘要：

本文介绍作为一种依赖标样的多元素分析技术,基体校正在X射线荧光光谱(XRF)定量分析中起着举足轻重的作用,而随着化学计量学在XRF中的应用与研究的发展,兴起了无标样分析技术与软件的研究.

关键词： X射线荧光分析 化学计量学 定量分析 基体校正

作者: 罗立强

作者单位: 国家地质实验测试中心(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届全国X射线光谱分析学术报告会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 5-5

在线出版日期: 2002-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）