会议专题

直流电阻率测井井间三维直接成像

本文在分析电性不均体对电位影响的基础上,找到了一种直接成像的参数.它等于正常场电位与实测电位的比值与背景电阻率的乘积,该参数在井间没有电性不均匀体时等于背景电阻率,而当井间存在低阻或高阻不均匀体时则小于或大于背景电阻率,很好地反映了井间不均匀体的电阻率性质和位置.

电阻率测井 直接成像 不均匀体 电位影响

吕玉增 阮百尧 黄俊革

桂林工学院资源与环境工程系(桂林市)

国内会议

中国地质学会地球物理调查与环境学术研讨会

北京

中文

71-72

2002-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)