仪器漏电引起的CMOS电路闩锁

摘要：

本文以某整机在调试过程中发生的一只CMOS驱动门电路的闩锁失效为例,具体分析了测试仪器感应漏电引起CMOS电路闩锁的现象、机理和原因,具有一定的典型性.

关键词： CMOS 闩锁 使用失效 驱动门电路 电源电路

作者: 马璇

作者单位: 骊山微电子公司(西安)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2001年全国电源技术应用研讨会,2001年全国电子元器件应用研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 274-276

在线出版日期: 2001-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）