混合集成电路的失效分析

摘要：

通过对两种混合集成电路即温控电路及隔离放大器BB3656BG的失效分析,表明以下观点:(1)对混合集成电路的分析,应通过电路内部测试,测量电路工作状态下各个关键部位的参数乃至动态波形;(2)深入的分析过程有利于对电路透彻的了解及促进同类型电路分析的深度有利于使分析结论更趋准确.

关键词： 混合集成电路 失效分析 电路测试 温控电路 隔离放大器

作者: 樊晓团 何振山

作者单位: 西安微电子技术研究所(西安)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2001年全国电源技术应用研讨会,2001年全国电子元器件应用研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 226-229

在线出版日期: 2001-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）