钽电容器和独石电容器的应用中的失效分析

摘要：

通过对钽电容器和多层独石瓷介电容器的几个失效分析实例,得出以下结论:(1)钽电容器使用中常见的失效现象是焊接不当,导致内部焊锡流动引起短路失效,应引起起装机工作人员高度重视;(2)通过分立元器件的解剖方法结合详细的测试分析,找出独石瓷介电容器内部的质量问题在于介质中的缺陷,导致电极材料局部突起,以至发生离子迁移或短路失效.

关键词： 固体电解质钽电容器 多层独石瓷介电容器 离子迁移 电介质 失效分析

作者: 樊晓团 胡圣

作者单位: 西安微电子技术研究所(西安)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2001年全国电源技术应用研讨会,2001年全国电子元器件应用研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 213-215

在线出版日期: 2001-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）