电子元器件的降额应用和”二次”筛选

摘要：

电子元器件的失效损伤,其一半是由于使用不当或保管,传输不当所造成.本文从电子元器件的降额使用和二次筛选等几个方面浅谈一些体会与经验.

关键词： 电子元器件 损伤失效 降额应用 二次筛选

作者: 李志鑫

作者单位: 西安微电子技术研究所(西安)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2001年全国电源技术应用研讨会,2001年全国电子元器件应用研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 190-192

在线出版日期: 2001-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）