磁芯材料特性测试技术

摘要：

该文在实验的基础上，归纳总结了低频和高频下，磁芯材料Ｂ－Ｈ回线是损耗的一些测试方法，并做了相应的分析，以期获得磁件建模验证的实验数据，尤其是有关工作于高频、任意波形激励的磁件，并进一步促进磁件设计的发展。

关键词： 磁件 磁芯 B-H回线 损耗

作者: 李智华 罗恒廉 费鸿俊

作者单位: 大学电气工程系

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国电源技术年会

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 468～471

在线出版日期: 1999-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）