一元与多元两种质量诊断
在工厂中,多工序、多指标生产线是很常见的.在这类系统中,若欲推行统计过程控制(SPC)与统计过程诊断(SPD),则必须考虑下列两方面,即上道工序对下道工序的影响和指标间的相关性.由于这两方面往往同时存在,使得问题更为复杂.我们需要应用张公绪在1996年提出的两种质量多元诊断和在1998年提出的相关单因素多元诊断.本文介绍了这些诊断的基本原理及其实例,现场实例证实理论与实际一致.
质量管理 质量多元诊断 统计过程控制 统计过程诊断 多指标生产线
张公绪 孙静
北京科技大学管理科学研究所 清华大学经济管理学院
国内会议
北京
中文
138-153
2001-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）