降低BIT虚警的方法研究

摘要：

虚警问题是机内测试(BIT)技术在现代武器装备中应用的最大障碍.本文提出了把虚警原因分为三个层次即信号获取层、信号处理层、诊断决策层的新看法,并且分析了各个层次的导致虚警产生的原因,又具体针对各层虚警产生的原因,提出了解决虚警问题的思路和方法.

关键词： 机内测试(BIT) 虚警 神经网络 信息融合 粗糙集

作者: 王新峰 邱静 刘冠军 钱彦岭 柳新民

作者单位: 国防科技大学机电工程研究所(长沙)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年全国振动工程及应用学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 31-34

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）