奈米二氧化钛之X光吸收光谱检测与分析

摘要：

利用同步辐射光源对奈米二氧化钛材料进行X光吸收光谱研究,包括X光近缘结构(可以用来检测材料中特定原子之电子组态)及延伸X光吸收精细结构(可用来测定原子之区域结构)两大部分.本文介绍了X光吸收光谱的基本原理,并研究奈米二氧化钛材料之结构性质,经由X光吸收光谱在原子短程结构及电子组态上之优点.与传统XRD长程有序分析及TEM等结果相互配合,可使我们更加了解奈米二氧化钛材料之结构特性.

关键词： 奈米二氧化钛微粒 煅烧 X光近缘结构 延伸X光吸收精细结构

作者: 杨宗烨 林鸿明 吴泉毅 林中魁 魏碧玉 戴明凤

作者单位: 大同大学材料工程学系(台北) 逢甲大学材料科学系(台中) 中正大学物理系(嘉义)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国颗粒学会2002年年会暨海峡两岸颗粒技术研讨会

会议地点: 广西桂林

会议语种:中文

页码: 70-73

在线出版日期: 2002-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）