会议专题

误判概率及其在质量分析中的应用

本文讨论了一维常态情形与稳定的制造工艺过程,由于测量误差的客观存在而导致对检测结果的影响,通过把产品测量尺寸分离为合格品测量尺寸和超差品测量尺寸,建立它们相应的概率分布,导出了误判概率计算公式,并用于产品质量分析,文中还首次提出了”双短尾”正态分布的概念.

误判概率 产品测量 测量误差 产品质量 质量分析 制造工业

胡清平 高成修 刘庆平

湖南省国防科技工业办公室(长沙) 武汉大学(武汉) 中南大学(长沙)

国内会议

中国质协2001年学术年会暨第二届中美质量管理交流研讨会

北京

中文

525-531

2001-06-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)