电子元器件失效分析技术概述

摘要：

本文叙述了常用电子元器件的主要失效部位、失效机理和失效分析方法,为失效分析人员选择适当的失效分析技术,开展失效分析工作提供了参考资料.

关键词： 失效分析 失效机理 电子元器件

作者: 费庆宇 蔡懿

作者单位: 信息产业部电子五所(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十二届电子元件学术年会

会议地点: 张家界

会议语种:中文

页码: 120-126

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）