整支MOA8/20μs残压测量分析

摘要：

通过试验发现MOA8/20μs雷电冲击下整支残压与单片叠加值的差异,分析了整支残压测量的准确性和必要性.强调MOA整支残压在绝缘配合中的重要地位.本文通过大量的试验比较,发现在冲击电流试验中电容分压器对测量波形产生畸变,正确的测量仪器是选用电阻分压器测量.

关键词： MOA 整支残压 绝缘配合 波形畸变

作者: 郭志红 郑瑞 王家军 张洁 王国举 李越 胡书慧

作者单位: 金冠电气设备厂(河南南阳)

会议类型: 国内会议

会议名称: 电工陶瓷专业委员会2002年学术交流会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 94-97

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）