纳米级银膜硅片的CV、Op-t和AFM法表征

摘要：

本文简要介绍了用循环伏安法开路电位—时间谱技术方法表征纳米级银膜硅片的可行性,其结果用原子力显微镜进行了对照.

关键词： 修饰电极 循环伏安法 银 纳米材料 硅片

作者: 佟浩 王春明

作者单位: 兰州大学化学化工学院

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国电分析化学学术会议

会议地点: 兰州

会议语种:中文

页码: 305-306

在线出版日期: 2002-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）