复合碳硅锰压片X射线荧光光谱测定

摘要：

将复合碳硅锰研磨至过>0.067mm筛,与粘结剂混匀,压制成φ40mm样片,用PW1606X射线荧光光谱仪测定其中的Si、Mn、P.测定结果准确、稳定,满足了科研生产分析要求,且方法简便、快速,缩短了分析周期.测定范围为:Si15.0﹪~18.0﹪,Mn57.0﹪~63.0﹪,P0.10﹪~0.25﹪.

关键词： 复合碳硅锰 压片 X射线荧光光谱 化学分析 钢铁冶炼 辅助材料

作者: 胡正阳 邢华宝 华静 史厚义

作者单位: 马鞍山钢铁股份有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国金属学会第一届青年学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 907-909

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）