用SEM分析肼对高岭石的插层作用

摘要：

本文采用肼插层高岭石,应用电镜研究插层前后高岭土粒度的变化,以望这种化学插层、机械研磨及烘干清除插层剂的方法成为高岭石的超细化方法.

关键词： 高岭石 肼插层 粒度变化 电镜观察

作者: 陈洁渝 严春杰 谌祺

作者单位: 中国地质大学测试中心(湖北武汉)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届全国电子显微学会议

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 755-756

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）