热氧化法制备SnO<,2>纳米晶的HREM研究

摘要：

本文利用高分辨电子显微镜(HREM,JEM-4000EX)对SnO颗粒的热氧化过程进行了详细研究.旨在分析SnO<,2>纳米颗粒的气敏性起源.

关键词： 半导体材料 二氧化锡薄膜 晶体结构 纳米颗粒 电镜观察 热氧化法

作者: 陈悦 朱健民 陈志强 朱俊杰 马国斌 朱信华 李齐

作者单位: 南京大学物理系固体微结构国家重点实验室(江苏南京) 南京大学化学系介观材料和配位化学国家重点实验室(江苏南京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届全国电子显微学会议

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 617-618

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）