电子能量损失谱研究GaN的极性

摘要：

本文利用电子能量损失谱来分析非中心对称的GaN晶体极性,文章通过电子能量损失谱的特征损失峰的强度及近限精细结构准确定出GaN薄膜的极性.

关键词： 电子能量损失谱 氮化镓 非中心对称晶体 电镜观察

作者: 孔翔 胡桂青 段晓峰

作者单位: 中国科学院北京电子显微镜实验室,中国科学院物理所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届全国电子显微学会议

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 594-595

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）