ICP-AES法测定氧化铁粉中的硅、铝、钙、锰和硫酸根

摘要：

本文试验了ICP-AES法测定氧化铁粉中硅、铝、钙、锰和硫酸根的实验条件,用浓盐酸直接分解氧化铁粉样品,溶解速度快,污染少.硅、铝、钙、锰氧化物的测量下限可达0.001~0.002﹪,硫酸根的测量下限0.01﹪.拟拟订的方法用于标准样品的定值分析,方法有较高的准确度和精密度.

关键词： 氧化铁粉 硅 铝 钙 锰 硫酸根 光谱分析

作者: 曹宏燕 闻向东 杨芸

作者单位: 武钢技术中心(武汉)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年中国机械工程学会年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 2106-2109

在线出版日期: 2002-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）