会议专题

多温度场热电偶转接技术

随着技术的发展和芯片集成度的不断提高,雷达单元的组装密度和热密度越来越高,由于热设计过程中经验公式的误差,往往需对产品样机进行温度测试,以得到准确的热性能.本文主要针对遇到的多温度场测试环境,论述了如何解决在多温度场间进行热电偶的转换,得出了在工程应用中具体可行的多温度场间热电偶转接的实施办法.

热电偶 多温度场 温度测试 雷达单元

李冬来

中国电子科技集团公司第十四研究所(江苏南京)

国内会议

中国电子学会电子机械工程分会2003年学术会议

青岛

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47-50

2003-08-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)