军用电子设备方舱故障模式研究

摘要：

本文介绍了军用电子设备方舱的各种故障模式,指出了脱层和密封失效是方舱故障的主要模式.对方舱故障产生的原因进行分析同时对方舱故障维修等级进行划分.提出了方舱制造采用的标准应向国外先进标准靠拢以及制定方舱制造过程控制规范的建议.

关键词： 方舱 故障模式 脱层 军用电子设备 密封失效

作者: 朱永明 张京

作者单位: 南京电子技术研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会电子机械工程分会2003年学术会议

会议地点: 青岛

会议语种:中文

页码: 234-236

在线出版日期: 2003-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）