K<,2>Ti<,6>O<,13>纳米线的Rietveld精修

摘要：

X射线粉末衍射是材料结构表征的主要方法,利用X射线衍射数据可以确定材料的晶粒尺寸、内应力等参数,然而纳米材料由于尺寸效应,使X射线衍射严重宽化,本文采用Rietveld方法对K<,2>Ti<,6>O<,13>纳米线的X射线衍射谱进行了分析,并和微晶K<,2>Ti<,6>O<,13>材料进行了比较.

关键词： X射线 Rietveld方法 纳米线 纳米材料

作者: 韩培德 中国科学院物理研究所电子显微镜重点实验室(北京) 梁建 杜高辉 许并社 彭练矛

作者单位: 太原理工大学材料科学与工程学院(山西太原) 中国科学院物理研究所电子显微镜重点实验室(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第三届纳米材料和技术应用会议

会议地点: 南京

会议语种:中文

页码: 688-691

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）