用非接触光探针平整度仪扫描取向膜边缘的轮廓

摘要：

本文采用非接触光探针平整度仪对取向膜表面轮廓形状进行扫描测试,探讨取向膜表面边缘轮廓形状可能对液晶屏盒厚均匀程度造成的影响.

关键词： 液晶显示器 取向膜 表面轮廓测试 非接触光探针平整度仪

作者: 范志新 潘良玉 孙玉宝 李志广

作者单位: 河北工业大学应用物理系(天津)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002中国平板显示学术会议

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 187-188

在线出版日期: 2002-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）