单片机及嵌入式系统软硬件可靠性模型研究

摘要：

本文分析了单片机及嵌入式系统的可靠性是基于了解状态和状态间的转化,从JM模型出发,利用Markov分析方法.它的基本思想是根据系统故障发生的历史,预测系统将来故障发生的行为.模型的研究分析结合了单片机及嵌入式系统的特点,主要为体现该背景下的应用.

关键词： Markov过程 单片机 嵌入式系统 可靠性 数学模型 语言编程

作者: 夏阳 袁涛 张国亮

作者单位: 清华大学自动化系(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2001嵌入式系统及单片机国际学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 73-77

在线出版日期: 2001-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）