载流子浓度和迁移率对材料红外发射率的影响

摘要：

利用IR-1红外发射率测量仪测量经不同温度热处理ZnO样品在8-14μm红外窗口波段的平均发射率,X射线衍射(XRD)结果表明各样品并无结构变化,通过HL5500霍尔参数测量对样品进行Hall测试,发现发射率、载流子浓度和迁移率三者之间存在着一定的联系.文中结合Hall测试结果探讨了这三者之间的相互关系,并给出一定的物理解释.

关键词： 红外发射率 Hall测试 载流子浓度 迁移率 ZnO 半导体材料

作者: 卢晓蓉 徐国跃 赵毅 汤浩 樊瑞新 杨德仁

作者单位: 南京航空航天大学材料科学与技术学院(南京) 浙江大学硅材料国家重点实验室(杭州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年中国材料研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 1884-1887

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）