透射电镜测试纳米级SiO<,x>颗粒群分形特征的研究

摘要：

用透射电子显微镜对两种不同生产方式制备的纳米级SiO<,x>进行了抽样测试,应用分形理论分析评价了颗粒群的粒度分布特征,测试、计算了不同颗粒群的相应的分形维数.研究表明,纳米级SiO<,x>颗粒群具有很好的自相似特征,可以通过分形理论的方法测试和计算其分形维数,当颗粒平均粒径小于30nm时,颗粒群聚集成链状,其非线性特征更为明显.可以在透射电子显微镜下直接测试颗粒群的分形维数,评价其聚集团的复杂程度.

关键词： 纳米材料 透射电镜 纳米SiO<,x>颗粒 粒度分布特征

作者: 唐明 沈阳建筑工程学院材料科学与工程系(沈阳) 巴恒静 李颖

作者单位: 哈尔滨工业大学材料科学与工程学院(哈尔滨) 沈阳建筑工程学院材料科学与工程系(沈阳)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年中国材料研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 1320-1324

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）